◎本仪器筛选方法已列入国家SJ/T10415-93、GJB128A-97标准，可取代直流满功率老炼，却比直流满功率老炼更加科学合理。◎每只器件整个测试筛选过程只需5秒左右，只测常温参数只需1秒多。◎能测试筛选NPN、PNP三极管（光偶） VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V（BR）CEO、V（BR）CBO、VCES、V（BR）EBO、VBES的常温、高温值及变化量。◎上述参数能自动一次性全部或选项部分检测。◎测试口更换器件自动识别、连续检测，超标器件自动声光报警。◎可储存上百种器件测试条件，失效判据，并能任意修改、调用。◎122×92mm大屏幕背光液晶显示，中文菜单式界面，操作简便，只需选择器件型号即可进入连续测试。◎可选配：打印机专用接口及打印机。
PTQ—8晶体管综合快速筛选台
1.系统简介
晶体管热敏参数的快速筛选技术是一种新的筛选技术，它是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数VBE、ICEO（或ICBO）和hFE,及其在加功率前后的变化量、变化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此为失效判据参量，淘汰超标的晶体管，达到剔除早期失效器件的目的，同时，所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力，这项技术已例入国家标准SJ／T10415－93和国军标GJB 128A－97，并实现了仪器化。
本仪器能按规定对被测管施加一个电流、电压、脉宽可调的功率脉冲，具有足够的热敏参数测试量程和精度，根据被测管设定的失效判据，具有失效报警、自动数据处理并显示和打印数据等功能。当被测管由于穿通、二次击穿和热击穿的瞬间，具有自动保护能力。
2.主要功能及技术指标
2.1能测试筛选大、中、小功率三极管。
2.2能测试加温前、加温后的30多个参数，并能任意选择全部或
部分选项，一次性自动检测；若选择常温测试每只只需1秒多。
2.3可任意设定测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式
任意调取。
2.4测试结果在大屏幕液晶显示器LCD上显示，超标器件
自动声光报警。
2.5测试结果通过统计可获得大值、小值、平均值。
2.6测试条件、失效判据、检测结果、测试时间、器件型号及编号
可通过打印机打印输出。
2.7操作简便，只需选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否
被测管自动识别。
2.8主要技术指标：（误差±5%）
VBE、VBC 测试范围：0.1V—1V
测试条件：1mA—50mA
hFE 测试范围：5—500倍
测试条件：VCE=1V—25V，IC=1mA—6A
ICEO、ICBO、IEBO测试范围：0.1uA—10mA
测试条件：10V—1000V(VEB:1V--100V)
V(BR)CEO、V(BR)CBO测试范围：10V—990V(V(BR)EBO5V--100V)
V(BR) EBO 测试条件：50uA—10mA
VCES、VBES 测试范围：0.1V—3V
测试条件：VCE=1V—10V，IC=10mA—6A，
IB=1mA—1A
加温PCM范围：VCE=5V—25V，IC：= 0.1A—6A
加温时间： T= 0—10S
2.9 电网电压: 220V±10%频率: 50HZ
2.10整机大功耗: 150W
2.11环境温度: 0℃—30℃
2.12相对湿度：≤85％
2.13重量：15kg
2.14外形尺寸：（宽×高×深mm）450×180×460
2.15其它：无强电磁场干扰和有害腐蚀性气体
